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計測展2006 OSAKA
会 期 2006年12月6日(水)~8日(水)会 場 グランキューブ大阪 主 催 社団法人 日本電気計測器工業会 計測と制御技術の専門展示会「計測展2006 OSAKA」がグランキューブ大阪にて開催された。 今回は「計測の技と匠で、夢への挑戦」をメインテーマに、充実した技術動向と最新情報が紹介されていた。 (株)山武では、高速サンプリング/高精度を実現し、高度化する制御ニーズに対応するデジタル指示調節計「SDC45/46」を展示していた(写真1)。 同製品は、基本のシングルループ制御からカスケード、2ループ制御、バックアップ制御などの高度制御までを1台で対応し、さらに同社従来シリーズの使いやすさも継承している。即応性や再現性が要求される半導体製造装置から、圧力/流量/化学反応プロセスを含むプラント制御まで、あらゆるアプリケーションに利用することができる。 京西テクノス(株)では、基板に搭載されている部品の不良解析を非通電状態で検査できる部品良否判定装置「AttackerⅠ」を展示していた(写真2)。 同製品は、回路図などの技術情報の有無に関わらず、あらゆる基板の故障個所を簡単に特定することができる。対象部品にテストプローブをあてるだけで波形が表示されるため、生産ラインなどの実装検査工程で迅速/容易に測定することができる。また、オシロスコープや外部モニタへ接続することで、測定波形をより詳細に表示することが可能である。 ナノグレイ(株)では、防塵/防水構造でIP66に準拠したガンマ線密度計「PM-1000」を展示していた(写真3) 同製品は、表示付認証機器で主任者の選任/管理区域の設定が必要なく、軽量で既設配管へ簡単に設置することを実現している。また、必要管長約220mmで僅かなスペースにも設置することができ、5年間無償保証である。シンチレーション検出器方式を採用した検出方法で、汚泥の濃度管理や高粘度液体の密度管理、製紙/化学/製錬/土木関連の流体に関する濃度/密度管理用途に適している。 同展示会の次回開催は会場を東京に移し、2007年11月7日(水)~9日(金)までの3日間、東京ビッグサイトにて「計測展2007 TOKYO」と題し開催が予定されている。 計測/制御技術の最新技術や市場動向などの情報収集の場として、注目していきたい。 2007年3月号掲載 PR |
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